< BK21 플러스 BEST 정보기술 사업단 세미나 개최 안내 >

개최일시 : 2016년 11월 28일 월요일 16:00 ~ 18:00

개최장소 : 제 3공학관 C716호

세미나 제목 : Test cost reduction을 위한 scan compression 기법의 변화 과정

발표초록 :

65나노부터 10나노에 이르기까지 test cost reduction을 위해 다양한 application에 적용 된 여러 가지 scan compression structure의 변화 과정을 소개하고 각 단계에서 발생하였던 문제점 및 개선 과정에 대한 설명을 통해 현업에서 직면하게 되는 issue들을 이해할 수 있는 시간을 갖고자 합니다. 또한 현재 당면하고 있는 DFT 관련 issue/challenge에 대해 자유롭게 논의하고자 합니다.

강연자 : 김지혜 / 삼성전자 반도체사업부 S.LSI 책임연구원

초청자 : 전기전자공학과 교수 강성호