< BK21 플러스 BEST 정보기술 사업단 세미나 개최 안내 >

개최일시 : 2016년 09월 19일 월요일 16:00 ~ 18:00

개최장소 : 제 3공학관 C716호

세미나 제목 : SOC Test Flow and Methodology

발표초록 :

시스템 반도체(SoC) 생산 공정에 있어 테스트는 매우 중요한 과정 중 하나이다.

설계자가 의도한 기능 동작의 검증(functional verification)과는 다른 개념으로,

테스트는 제품의 대량 생산을 전제로 하여 최소한의 비용으로 제품의 양/불량을 판별하는 과정이다.

본 세미나에서는 업계에서 시스템 반도체 생산 단계 중 수행되는 여러 가지 테스트들과

각 테스트 단계에서 수행되는 테스트 항목들에 대해 소개하고

시스템 반도체의 단가에 영향을 미치는 테스트 비용을 줄이기 위한 시도들과

그 효과 및 한계점 등에 대해 다룰 예정이다.

강연자 : 김인철 박사/ LG전자 SIC 센터

초청자 : 전기전자공학과 교수 강성호