연세대 전기전자공학과 채영철 교수 연구팀이 세계 최초로 웨이퍼 스케일의 고속, 초저선량, 고해상도 SPAD(Single Photon Avalanche Diode) X-ray 센서를 개발했다. 이 기술은 가치를 인정받아 시스템 반도체 설계 분야 최우수 학술대회인 ‘IEEE VLSI 심포지엄’ 발표 논문으로 선정돼 6월 18일에 발표됐다.

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