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- 연세대 채영철 교수팀, 웨이퍼 스케일 고해상도 SPAD X-ray 센서 개발
- 작성일
- 2024.09.30
- 작성자
- 전기전자공학부
- 게시글 내용
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연세대 전기전자공학과 채영철 교수 연구팀이 세계 최초로 웨이퍼 스케일의 고속, 초저선량, 고해상도 SPAD(Single Photon Avalanche Diode) X-ray 센서를 개발했다. 이 기술은 가치를 인정받아 시스템 반도체 설계 분야 최우수 학술대회인 ‘IEEE VLSI 심포지엄’ 발표 논문으로 선정돼 6월 18일에 발표됐다.
기사 원문: https://edu.donga.com/?p=article&ps=view&at_no=20240618102451400155
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