채영철 교수 연구팀은 세계에서 가장 큰 면적의 단일 칩으로 구현된 이미지 센서를 기반으로 한 12 inch wafer-scale X-ray detector 개발에 성공함.
이 연구 결과는 집적 회로 분야 세계 최고 권위지인 IEEE Jounal of Solid-State Circuits에 게재 됨.