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김현재 교수 연구팀, 순간접착제를 이용한 산화물 박막 트랜지스터의 passivation layer 연구 Journal of Materials Chemistry C에 논문 게재 (IF = 5.256)
작성일
2018.05.28
작성자
전기전자공학부
게시글 내용

※ 김현재 교수 연구팀이 순간접착제를 이용한 산화물 박막 트랜지스터의 passivation layer 관련 연구를 세계적인 과학 저널 ‘Journal of Material Chemestry C’에 발표하였다. 본 연구에서는 passivation layer를 짧은 시간의 저온 공정으로 증착하여 소자 성능과 신뢰성을 향상시켰고, 이는 차세대 디스플레이의 신뢰성 향상에 그 응용 가치가 매우 높을 것으로 기대된다.
※ 본 연구는 연세대학교 전기전자공학부 김현재 교수(교신저자)가 지도하고, 석박통합과정 유혁준 학생(제1저자)이 주도하였다.


※ Prof. Hyun Jae Kim’s research team reported passivation layer of oxide thin-film transistors using instant glue on Journal of Material Chemistry C. In this study, the passivation layer was deposited by a low temperature process for a short time to improve the performance and stability of the oxide thin-film transistor. This study is expected to be highly applicable to improve the reliability of the next generation display.

※ This research was guided by Prof. Hyun Jae Kim (contact author) and led by graduate student Hyukjoon Yoo (first author).
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